Quantitative X-Ray diffractometry

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Bibliographic Details
Main Author: Zevin, Lev S.
Other Authors: Kimmel, Giora
Format: Book
Language:English
Published: New York Springer-Verlag 1995
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Biblioteca Facultad de Ingeniería Química

Holdings details from Biblioteca Facultad de Ingeniería Química
Signatura Topogafica: 537.5 ; Z6
Ejemplar 32228
Tipo de Prestamo: Prestamo a domicilio
Disponibilidad: Available



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